平行平晶簡介:
平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用
平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。平行
平晶具有高精度的平面性和平行性。
平行平晶功能:平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。平行平晶共分四個(gè)系列,每個(gè)系列各分六組,每組四塊。
平面平晶簡介:平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。
平面平晶功能:平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件,例如,平面光學(xué)零件、_平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
序號(hào) 名稱 型號(hào)規(guī)格 單位 數(shù)量 等級(jí)
1 平行平晶 0-25 4塊/組 1
2 平行平晶 25-50 4塊/組 1
3平行平晶 50-75 4塊/組 1
4 平行平晶 75-100 4塊/組 1